在納米材料、制藥、化工、食品、環境監測及半導體制造等領域，顆粒的粒徑分布直接影響產品的穩定性、溶解性、反應活性與質量一致性。粒徑測量儀能夠精確分析從納米到毫米級顆粒的尺寸與分布，實現“微粒可見”。
粒徑測量儀高精度測量的背后，是多個精密部件協同運作的成果。
一、光學系統
光學系統是粒徑測量儀的“感知中樞”，決定測量范圍與分辨率。
激光光源：采用高穩定性半導體激光器（如He-Ne或藍光激光），波長通常為632.8nm或405nm，提供均勻、單色、相干性強的光束，確保散射信號準確。
光路設計：包括準直透鏡、擴束鏡、傅里葉透鏡等，確保激光束均勻照射樣品，并將散射光精確聚焦至探測器。
探測器陣列：由數十至數百個環形或線性光電探測器組成，接收不同角度的散射光信號。探測器靈敏度高、響應快，能捕捉微弱散射光，實現寬動態范圍測量。
二、樣品分散系統
顆粒在液體或氣體中的分散狀態直接影響測量結果。
濕法分散單元：包含超聲波分散器、攪拌器和循環泵，用于將團聚顆粒打散，形成均勻懸浮液。超聲功率可調，避免過度破碎。
干法分散單元（適用于干粉）：通過氣流噴射將粉末分散成單顆粒狀態，避免使用溶劑，適用于親水性差或易溶材料。
樣品池：由石英或光學玻璃制成，透光性好、耐腐蝕，確保光路暢通。
三、信號處理與控制系統
數字信號處理器（DSP）：高速采集探測器信號，進行濾波、放大與模數轉換，確保數據真實可靠。
反演算法：采用先進的米氏理論或夫瑯禾費衍射理論，通過數學反演計算粒徑分布?，F代儀器支持多峰、寬分布的精確擬合。
控制軟件：配備專業分析軟件，支持測量模式選擇、參數設置、數據存儲、分布圖繪制與報告生成，操作界面友好，符合GLP規范。
四、數據存儲與輸出模塊
內置大容量存儲空間，可保存數百組測量數據及參數設置。
支持USB、RS232、以太網或Wi-Fi接口，實現數據導出、遠程監控與系統集成。
五、輔助部件
溫控系統：部分機型配備恒溫裝置，控制樣品溫度（如25±0.5℃），防止熱對流影響分散穩定性。
自動對中系統：實時監測激光光路是否偏移，自動調整，確保測量一致性。
清潔系統：自動沖洗功能，減少人工清洗時間，防止交叉污染。
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